Influence of Si Atoms Insertion on the Formation of the Ti-Si-N Composite by DFT Simulation

Se simularon estructuras del SiN y TiN utilizando Teora̕ de Funcionales de Densidad (DFT), con el fin de estudiar la influencia de la insercin̤ de t̀omos de Si en la estructura del TiN en posiciones intersticiales y sustitucionales de una red cristalina cb͠ica centrada en las caras (FCC). Los resul...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Gonzalez Juan Manuel, Ortega Portilla Carolina, Ruden Muǫz Alexander, Sequeda Osorio Federico, Steeven Restrepo Johans, Universidad EAFIT
Formatua: Liburua
Hizkuntza:ingelesa
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Influence of Si Atoms Insertion on the Formation of the Ti-Si-N Composite by DFT Simulation
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