Influence of Si Atoms Insertion on the Formation of the Ti-Si-N Composite by DFT Simulation

Se simularon estructuras del SiN y TiN utilizando Teora̕ de Funcionales de Densidad (DFT), con el fin de estudiar la influencia de la insercin̤ de t̀omos de Si en la estructura del TiN en posiciones intersticiales y sustitucionales de una red cristalina cb͠ica centrada en las caras (FCC). Los resul...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Gonzalez Juan Manuel, Ortega Portilla Carolina, Ruden Muǫz Alexander, Sequeda Osorio Federico, Steeven Restrepo Johans, Universidad EAFIT
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:անգլերեն
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Influence of Si Atoms Insertion on the Formation of the Ti-Si-N Composite by DFT Simulation
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!