Influence of Si Atoms Insertion on the Formation of the Ti-Si-N Composite by DFT Simulation

Se simularon estructuras del SiN y TiN utilizando Teora̕ de Funcionales de Densidad (DFT), con el fin de estudiar la influencia de la insercin̤ de t̀omos de Si en la estructura del TiN en posiciones intersticiales y sustitucionales de una red cristalina cb͠ica centrada en las caras (FCC). Los resul...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Інші автори: Gonzalez Juan Manuel, Ortega Portilla Carolina, Ruden Muǫz Alexander, Sequeda Osorio Federico, Steeven Restrepo Johans, Universidad EAFIT
Формат: Книга
Мова:Англійська
Предмети:
Онлайн доступ:Influence of Si Atoms Insertion on the Formation of the Ti-Si-N Composite by DFT Simulation
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!