Nanoindentacin̤ basada en espectroscopia de fuerza con una fuerza atm̤ica
Se presenta una implementacin̤ del mťodo de indentacin̤ superficial basado en Microscopa̕ de Fuerza Atm̤ica (AFM). La implementacin̤ se realiz ̤utilizando la Espectroscopia de Fuerza (FS) habitualmente habilitada en estos instrumentos que permiten el movimiento vertical de la punta AFM sin desplaza...
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| 語言: | 西班牙语 |
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| 在線閱讀: | Nanoindentacin̤ basada en espectroscopia de fuerza con una fuerza atm̤ica |
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| 總結: | Se presenta una implementacin̤ del mťodo de indentacin̤ superficial basado en Microscopa̕ de Fuerza Atm̤ica (AFM). La implementacin̤ se realiz ̤utilizando la Espectroscopia de Fuerza (FS) habitualmente habilitada en estos instrumentos que permiten el movimiento vertical de la punta AFM sin desplazamiento lateral. La determinacin̤ del factor sensible del voladizo AFM fue necesaria para conocer las fuerzas aplicadas en el proceso de indentacin̤. Se obtuvieron curvas de fuerza versus profundidad similares a las curvas de indentacin̤ de deteccin̤ de profundidad (DSI); sin embargo, no se pueden usar para diagns̤ticos mecǹicos con el mťodo de Oliver & Pharr. Se produjeron indentaciones de aproximadamente 1 nm y 50 nm de profundidad en silicio policristalino y aleacin̤ de aluminio 6261, respectivamente. Estas abren importantes aplicaciones en la nanotecnologa̕ de materiales. |
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| ISBN: | 2256-4314 (Versin̤ electrn̤ica); 1794-9165 (Versin̤ impresa) |