Nanoindentacin̤ basada en espectroscopia de fuerza con una fuerza atm̤ica

Se presenta una implementacin̤ del mťodo de indentacin̤ superficial basado en Microscopa̕ de Fuerza Atm̤ica (AFM). La implementacin̤ se realiz ̤utilizando la Espectroscopia de Fuerza (FS) habitualmente habilitada en estos instrumentos que permiten el movimiento vertical de la punta AFM sin desplaza...

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ग्रंथसूची विवरण
अन्य लेखक: Arroyave Franco Mauricio, Universidad EAFIT
स्वरूप: पुस्तक
भाषा:स्पेनिश
विषय:
ऑनलाइन पहुंच:Nanoindentacin̤ basada en espectroscopia de fuerza con una fuerza atm̤ica
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246 |a Nanoindentation based on force spectroscopy with an atomic force 
264 |a Bogot ̀(Colombia) :  |b Revista VirtualPRO,  |c 2020 
520 3 |a Se presenta una implementacin̤ del mťodo de indentacin̤ superficial basado en Microscopa̕ de Fuerza Atm̤ica (AFM). La implementacin̤ se realiz ̤utilizando la Espectroscopia de Fuerza (FS) habitualmente habilitada en estos instrumentos que permiten el movimiento vertical de la punta AFM sin desplazamiento lateral. La determinacin̤ del factor sensible del voladizo AFM fue necesaria para conocer las fuerzas aplicadas en el proceso de indentacin̤. Se obtuvieron curvas de fuerza versus profundidad similares a las curvas de indentacin̤ de deteccin̤ de profundidad (DSI); sin embargo, no se pueden usar para diagns̤ticos mecǹicos con el mťodo de Oliver & Pharr. Se produjeron indentaciones de aproximadamente 1 nm y 50 nm de profundidad en silicio policristalino y aleacin̤ de aluminio 6261, respectivamente. Estas abren importantes aplicaciones en la nanotecnologa̕ de materiales. 
650 \ \ |a Nanoestructuras 
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650 \ \ |a Fuerza y energa̕ 
650 \ \ |a Nanostructures 
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650 \ \ |a Fuerza atm̤ica; Espectroscopia de fuerza; Nanoindentacin̤.<U+0009> 
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