Nanoindentacin̤ basada en espectroscopia de fuerza con una fuerza atm̤ica

Se presenta una implementacin̤ del mťodo de indentacin̤ superficial basado en Microscopa̕ de Fuerza Atm̤ica (AFM). La implementacin̤ se realiz ̤utilizando la Espectroscopia de Fuerza (FS) habitualmente habilitada en estos instrumentos que permiten el movimiento vertical de la punta AFM sin desplaza...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
অন্যান্য লেখক: Arroyave Franco Mauricio, Universidad EAFIT
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:স্প্যানিশ
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Nanoindentacin̤ basada en espectroscopia de fuerza con una fuerza atm̤ica
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!