Nanoindentacin̤ basada en espectroscopia de fuerza con una fuerza atm̤ica

Se presenta una implementacin̤ del mťodo de indentacin̤ superficial basado en Microscopa̕ de Fuerza Atm̤ica (AFM). La implementacin̤ se realiz ̤utilizando la Espectroscopia de Fuerza (FS) habitualmente habilitada en estos instrumentos que permiten el movimiento vertical de la punta AFM sin desplaza...

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其他作者: Arroyave Franco Mauricio, Universidad EAFIT
格式: 圖書
語言:西班牙语
主題:
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