Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Saved in:
| Corporate Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| Subjects: | |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Item Description: | Corregida y reimpresa, 2009 |
|---|---|
| Physical Description: | 96 p. 30 cm. |
| Bibliography: | índice |