Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Autor kompanije: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Format: Knjiga
Jezik:španjolski
Izdano: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
Teme:
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
Opis
Opis predmeta:Corregida y reimpresa, 2009
Opis fizičkog objekta:96 p. 30 cm.
Bibliografija:índice