Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

Saved in:
Bibliographic Details
Corporate Author: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Format: Book
Language:Spanish
Published: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)

Holdings details from Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
Call Number: R NCh 44.Of2007
Copy 1 Available Place a Hold