Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

保存先:
書誌詳細
団体著者: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
フォーマット: 図書
言語:スペイン語
出版事項: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
主題:
タグ: タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!

MARC

LEADER 00000nam a22000005a 4500
003 CL-ChBUA
005 20140214082939.0
008 140213s2007 cl ||||| |||| 000 ||spa
040 |a CL-ChBUA  |c CL-ChBUA 
110 1 |a Instituto Nacional de Normalización (Chile) 
245 1 0 |a Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote 
260 |a Santiago  |b Instituto Nacional de Normalización   |c 2007 
300 |a 96 p.  |c 30 cm. 
500 |a Corregida y reimpresa, 2009 
504 |a índice 
650 4 |a INN (CHILE) 
650 4 |a CONTROL DE CALIDAD - NORMAS - CHILE 
942 |2 ddc  |c LIBR 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 R_000000000000000_NCH_44_OF200  |7 0  |9 1139329  |a UNACH  |b UNACH  |c RPT  |d 2014-02-13  |i 51.943  |l 0  |o R NCh 44.Of2007  |p 75282  |r 2014-02-13 00:00:00  |t 1  |w 2014-02-13  |y LIBR 
999 |c 2060717  |d 2060717