Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

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書誌詳細
団体著者:	Instituto Nacional de Normalización (Chile)
フォーマット:	図書
言語:	スペイン語
出版事項:	Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
主題:	INN (CHILE) CONTROL DE CALIDAD - NORMAS - CHILE
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