Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

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Podrobná bibliografie
Korporativní autor: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Médium: Kniha
Jazyk:španělština
Vydáno: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
Témata:
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Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)

Informace o exemplářích z: Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
Signatura: R NCh 44.Of2007
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