Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Wedi'i Gadw mewn:
| Awdur Corfforaethol: | |
|---|---|
| Fformat: | Llyfr |
| Iaith: | Sbaeneg |
| Cyhoeddwyd: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
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| Pynciau: | |
| Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
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Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| Rhif Galw: |
R NCh 44.Of2007 |
|---|---|
| Copi 1 | Ar gael Gwneud Cais |