Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Ισπανικά
Έκδοση: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
Ταξινομικός Αριθμός: R NCh 44.Of2007
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη Κάντε κράτηση