Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Formato: Libro
Lenguaje:español
Publicado: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
Materias:
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)

Detalle de Existencias desde Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
Número de Clasificación: R NCh 44.Of2007
Copia 1 Disponible Hacer reserva