Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Erakunde egilea: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Formatua: Liburua
Hizkuntza:gaztelania
Argitaratua: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
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Etiketak: Etiketa erantsi
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Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)

Aleari buruzko argibideak Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
Sailkapena: R NCh 44.Of2007
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