Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Tallennettuna:
| Yhteisötekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Kieli: | espanja |
| Julkaistu: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| Hyllypaikka: |
R NCh 44.Of2007 |
|---|---|
| Nide 1 | Saatavissa Tee varaus |