Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
保存先:
| 団体著者: | |
|---|---|
| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | スペイン語 |
| 出版事項: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
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| 主題: | |
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Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| 請求記号: |
R NCh 44.Of2007 |
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| 所蔵 1 | 利用可 予約する |