Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
I tiakina i:
| Kaituhi rangatōpū: | |
|---|---|
| Hōputu: | Pukapuka |
| Reo: | Pāniora |
| I whakaputaina: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
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| Ngā marau: | |
| Tags: |
Tāpirihia he Tūtohu
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Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| Tau karanga: |
R NCh 44.Of2007 |
|---|---|
| Tārua 1 | Wātea Whakarite puringa |