Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Zapisane w:
| Korporacja: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | hiszpański |
| Wydane: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| Sygnatura: |
R NCh 44.Of2007 |
|---|---|
| Egzemplarz 1 | Dostępne Zamów |