Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

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Detalhes bibliográficos
Autor Corporativo: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Formato: Livro
Idioma:espanhol
Publicado em: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
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Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)

Detalhes do Exemplar Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
Área/Cota: R NCh 44.Of2007
Cód. Barras: 1 Disponível Localização