Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Сохранить в:
| Соавтор: | |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | испанский |
| Опубликовано: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| Шифр: |
R NCh 44.Of2007 |
|---|---|
| Копировать 1 | Доступно Поместить задолженность |