Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

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Detaylı Bibliyografya
Müşterek Yazar: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Materyal Türü: Kitap
Dil:İspanyolca
Baskı/Yayın Bilgisi: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
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Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)

Detaylı Erişim Bilgileri Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
Yer Numarası: R NCh 44.Of2007
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