Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Збережено в:
| Співавтор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Мова: | Іспанська |
| Опубліковано: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| Предмети: | |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| Шифр: |
R NCh 44.Of2007 |
|---|---|
| Примірник 1 | Доступно Розмістити замовлення |