La cara oculta de los test de inteligencia un análisis crítico /
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awdur: | Ovejero Bernal, Anastasio |
|---|---|
| Fformat: | Electronig eLyfr |
| Iaith: | Sbaeneg |
| Cyhoeddwyd: |
Madrid :
Biblioteca Nueva,
2003.
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| Cyfres: | Psicología Universidad (Biblioteca Nueva (Firm))
Digitalia eBook Collection: Biblioteca Nueva |
| Pynciau: | |
| Mynediad Ar-lein: | Digitalia Hispánica |
| Tagiau: |
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Eitemau Tebyg
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