Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | , |
| פורמט: | ספר אלקטרוני |
| שפה: | ספרדית |
| יצא לאור: |
Ibagué :
Sello editorial Universidad del Tolima,
2024.
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/284052 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!