Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Infante Abreu, Marta Beatriz
Outros autores: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Formato: Thesis eBook
Idioma:Lingua castelá
Publicado: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
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Acceso en liña:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
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