APA (7 वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र

Infante Abreu, M. B., Delgado Fernández, M., & Díaz Batista, A. (2015). Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos. Editorial Universitaria.

शिकागो शैली (17वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र

Infante Abreu, Marta Beatriz, Mercedes Delgado Fernández, और Antonio Díaz Batista. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. La Habana: Editorial Universitaria, 2015.

एमएलए (9वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र

Infante Abreu, Marta Beatriz, et al. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. Editorial Universitaria, 2015.

चेतावनी: ये उद्धरण हमेशा 100% सटीक नहीं हो सकते हैं.