Infante Abreu, M. B., Delgado Fernández, M., & Díaz Batista, A. (2015). Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos. Editorial Universitaria.
शिकागो शैली (17वां संस्करण) प्रशस्ति पत्रInfante Abreu, Marta Beatriz, Mercedes Delgado Fernández, और Antonio Díaz Batista. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. La Habana: Editorial Universitaria, 2015.
एमएलए (9वां संस्करण) प्रशस्ति पत्रInfante Abreu, Marta Beatriz, et al. Modelo De Vigilancia Tecnológica Basado En Patrones Asociados a Factores Críticos. Editorial Universitaria, 2015.
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