Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

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Dades bibliogràfiques
Autor principal: Infante Abreu, Marta Beatriz
Altres autors: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Format: Thesis eBook
Idioma:espanyol
Publicat: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Matèries:
Accés en línia:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
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Descripció
Descripció física:1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas
Bibliografia:Contiene bibliografía.
ISBN:9789591628671 (e book)