Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Infante Abreu, Marta Beatriz
מחברים אחרים: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
פורמט: Thesis ספר אלקטרוני
שפה:ספרדית
יצא לאור: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
נושאים:
גישה מקוונת:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תיאור
תיאור פיזי:1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas
ביבליוגרפיה:Contiene bibliografía.
ISBN:9789591628671 (e book)