Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

Furkejuvvon:
Bibliográfalaš dieđut
Váldodahkki: Infante Abreu, Marta Beatriz
Eará dahkkit: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Materiálatiipa: Oahppočájánas E-girji
Giella:espánnjágiella
Almmustuhtton: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Fáttát:
Liŋkkat:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
Fáddágilkorat: Lasit fáddágilkoriid
Eai fáddágilkorat, Lasit vuosttaš fáddágilkora!
Govvádus
Olgguldas hápmi:1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas
Bibliografiija:Contiene bibliografía.
ISBN:9789591628671 (e book)