Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Diğer Yazarlar: | , |
| Materyal Türü: | Tez Ekitap |
| Dil: | İspanyolca |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
|
| Konular: | |
| Online Erişim: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796 |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
| Fiziksel Özellikler: | 1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablas |
|---|---|
| Bibliyografya: | Contiene bibliografía. |
| ISBN: | 9789591628671 (e book) |