Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | , |
| التنسيق: | أطروحة كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإسبانية |
| منشور في: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|