Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Infante Abreu, Marta Beatriz
Weitere Verfasser: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Format: Abschlussarbeit E-Book
Sprache:Spanisch
Veröffentlicht: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Schlagworte:
Online-Zugang:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
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