Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Infante Abreu, Marta Beatriz
Beste egile batzuk: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Formatua: Thesis eBook
Hizkuntza:gaztelania
Argitaratua: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!