Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

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Auteur principal: Infante Abreu, Marta Beatriz
Autres auteurs: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Format: Thèse eBook
Langue:espagnol
Publié: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Sujets:
Accès en ligne:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
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