Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Infante Abreu, Marta Beatriz
अन्य लेखक: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
स्वरूप: थीसिस ई-पुस्तक
भाषा:स्पेनिश
प्रकाशित: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
विषय:
ऑनलाइन पहुंच:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
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