Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

I tiakina i:
Ngā taipitopito rārangi puna kōrero
Kaituhi matua: Infante Abreu, Marta Beatriz
Ētahi atu kaituhi: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Hōputu: Thesis īPukapuka
Reo:Pāniora
I whakaputaina: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Ngā marau:
Urunga tuihono:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
Tags: Tāpirihia he Tūtohu
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