Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Infante Abreu, Marta Beatriz
Outros Autores: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Formato: Thesis livro electrónico
Idioma:espanhol
Publicado em: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Assuntos:
Acesso em linha:https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796
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