Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | , |
| Формат: | Диссертация eКнига |
| Язык: | испанский |
| Опубликовано: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://elibro.unach.elogim.com/es/lc/unach/titulos/90796 |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|