Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...
Kaydedildi:
| Diğer Yazarlar: | , , |
|---|---|
| Materyal Türü: | Kitap |
| Dil: | İngilizce |
| Konular: | |
| Online Erişim: | Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
İlk yorumlayan siz olun!