Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials

La capacidad de los rayos X para analizar la estructura y dinm̀ica de casi todas las formas de la materia ha sido ampliamente demostrado por las investigaciones cientf̕icas. Dado que los rayos X son sensibles a caracters̕ticas estructurales con longitudes de 10-3 a aproximadamente 1 nm, as ̕como a p...

Ful tanımlama

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar: Khodaei Mehdi, Petaccia Luca, InTech
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Konular:
Online Erişim:Introductory chapter, synchrotron-based x-ray characterization of nanomaterials
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!