Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth

Los primeros sistemas estudiados con operando SXRD han sido elegidos por su qum̕ica simple y porque ya se haba̕n caracterizado ampliamente con caracterizaciones electroqum̕icas y espectroscp̤icas estǹdar. Al realizar el operando SXRD, hemos sido capaces de abordar varias preguntas abiertas sobre el...

Бүрэн тодорхойлолт

Номзүйн дэлгэрэнгүй

Бусад зохиолчид:	Giaccherini Andrea, Felici Roberto, Innocenti Massimo, InTech
Формат:	Ном
Хэл сонгох:	англи
Нөхцлүүд:	Nanociencia Nanotecnologa̕ Electroqum̕ica EspectroscopƯ̕a Nanoscience Nanotechnology Electrochemistry Spectroscopy estequiometra̕ voltametra̕ stoichiometry voltammetry
Онлайн хандалт:	Operando structural characterization of the E-ALD process ultra-thin films growth
Шошгууд:	Шошго нэмэх Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!