AlN film deposition as a semiconductor device
Pelc̕ulas de AlN fueron depositados por la tčnica de deposicin̤ por ls̀er pulsado (PLD), utilizando un ls̀er Nd: YAG con una longitud de onda de 1064 nm. Las pelc̕ulas fueron depositadas en una atms̤fera de nitrg̤eno como gas de trabajo; como ct̀odo se us ̤aluminio de alta pureza (99,99%). Las pelc...
Uloženo v:
| Další autoři: | Caicedo Julio Cesar, Přez Taborda Jaime Andrš, Chaparro Willian Aperador, Universidad Nacional de Colombia. Facultad de Ingeniera̕ |
|---|---|
| Médium: | Kniha |
| Jazyk: | angličtina |
| Témata: | |
| On-line přístup: | AlN film deposition as a semiconductor device |
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