AlN film deposition as a semiconductor device
Pelc̕ulas de AlN fueron depositados por la tčnica de deposicin̤ por ls̀er pulsado (PLD), utilizando un ls̀er Nd: YAG con una longitud de onda de 1064 nm. Las pelc̕ulas fueron depositadas en una atms̤fera de nitrg̤eno como gas de trabajo; como ct̀odo se us ̤aluminio de alta pureza (99,99%). Las pelc...
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| その他の著者: | Caicedo Julio Cesar, Přez Taborda Jaime Andrš, Chaparro Willian Aperador, Universidad Nacional de Colombia. Facultad de Ingeniera̕ |
|---|---|
| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | 英語 |
| 主題: | |
| オンライン・アクセス: | AlN film deposition as a semiconductor device |
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