Influence of Si Atoms Insertion on the Formation of the Ti-Si-N Composite by DFT Simulation

Se simularon estructuras del SiN y TiN utilizando Teora̕ de Funcionales de Densidad (DFT), con el fin de estudiar la influencia de la insercin̤ de t̀omos de Si en la estructura del TiN en posiciones intersticiales y sustitucionales de una red cristalina cb͠ica centrada en las caras (FCC). Los resul...

Descripció completa

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Altres autors: Gonzalez Juan Manuel, Ortega Portilla Carolina, Ruden Muǫz Alexander, Sequeda Osorio Federico, Steeven Restrepo Johans, Universidad EAFIT
Format: Llibre
Idioma:anglès
Matèries:
Accés en línia:Influence of Si Atoms Insertion on the Formation of the Ti-Si-N Composite by DFT Simulation
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!