Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

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Dettagli Bibliografici
Ente Autore: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Natura: Libro
Lingua:spagnolo
Pubblicazione: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
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Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)

Dettagli sul posseduto da Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
Collocazione: R NCh 44.Of2007
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