Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Bewaard in:
| Coauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Boek |
| Taal: | Spaans |
| Gepubliceerd in: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| Onderwerpen: | |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| Plaatsingsnummer: |
R NCh 44.Of2007 |
|---|---|
| Kopie 1 | Beschikbaar Plaats een reservatie |