Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Enregistré dans:
| Collectivité auteur: | |
|---|---|
| Format: | Livre |
| Langue: | espagnol |
| Publié: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| Cote: |
R NCh 44.Of2007 |
|---|---|
| Exemplaire 1 | Disponible Réserver |