Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Saved in:
| 企业作者: | |
|---|---|
| 格式: | 图书 |
| 语言: | 西班牙语 |
| 出版: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| 主题: | |
| 标签: |
添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!
|
Biblioteca UNACH: Referencia (Procesos Técnicos)
| 索引号: |
R NCh 44.Of2007 |
|---|---|
| 复印件 1 | 可用 预订 |