Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
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| Corporate Author: | Instituto Nacional de Normalización (Chile) |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
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| Subjects: | |
| Tags: |
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