Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակ: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:իսպաներեն
Հրապարակվել է: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
Խորագրեր:
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Նմանատիպ նյութեր