Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Awdur Corfforaethol: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Fformat: Llyfr
Iaith:Sbaeneg
Cyhoeddwyd: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
Pynciau:
Tagiau: Ychwanegu Tag
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