Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

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Bibliografische gegevens
Coauteur: Instituto Nacional de Normalización (Chile)
Formaat: Boek
Taal:Spaans
Gepubliceerd in: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007
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