Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Bewaard in:
| Coauteur: | Instituto Nacional de Normalización (Chile) |
|---|---|
| Formaat: | Boek |
| Taal: | Spaans |
| Gepubliceerd in: |
Santiago
Instituto Nacional de Normalización
2007
|
| Onderwerpen: | |
| Tags: |
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